Knihy od autora Patrick Echlin

Zobrazené 1 – 8 z 8 výsledkov

1. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2009

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   146.82 €

   Zľava 0 %

   Ušetríte 0.04 €

   Kúpiť
2. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   205.53 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 17.09 €

   Kúpiť
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   102.86 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.62 €

   Kúpiť
4. 

   Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   154.20 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 12.86 €

   Kúpiť
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   102.86 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.62 €

   Kúpiť
6. 

   Low-Temperature Microscopy and Analysis

   Patrick Echlin | Springer Science+Business Media, 1992

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 13 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   216.14 €

   Kúpiť
7. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   102.86 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.62 €

   Kúpiť
8. 

   Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media

   
   

   50 % šanca - Prehľadáme celý svet

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   191.89 €

   Kúpiť

Výber z miliónov titulov vám len tak niekto neponúkne. Zistite viac